恒溫恒濕試驗箱溫濕度滿足哪些標(biāo)準(zhǔn)呢?
溫度和濕度測試箱滿足下列各項標(biāo)準(zhǔn):
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗A:低溫試驗方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗B:高溫試驗方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗。
GB150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法
gjb150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗法
恒溫恒濕試驗箱用于檢驗電子產(chǎn)品,材料、電工、儀器儀表等產(chǎn)品在高低溫或者濕熱環(huán)境下的各種性能指標(biāo)。電子產(chǎn)品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗?
伴隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的快速發(fā)展,電工電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域越來越廣泛,所處的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只要對產(chǎn)品的環(huán)境條件進(jìn)行合理的規(guī)定,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)保措施,就可以保證產(chǎn)品在儲存、運(yùn)輸和使用過程中不受損害,安全可靠。所以,電子電工產(chǎn)品的人工模擬環(huán)境試驗是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸和使用過程中的安全與可靠性的重要保證。電子電工產(chǎn)品在出廠前進(jìn)行仿真環(huán)境試驗是保證產(chǎn)品質(zhì)量*的重要環(huán)節(jié),其環(huán)境試驗條件、試驗方法和試驗設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。